北极星

搜索历史清空

  • 水处理
您的位置:光伏光伏原材料及辅料硅片技术正文

硅片厚度和总厚度变化测试方法(GB/T 6618-2009)

2015-02-10 10:03来源:中国新能源网关键词:硅片光伏技术光伏发电收藏点赞

投稿

我要投稿

7 、测量程序

7.1 、测且环境条件

7.1.1 、温度:18℃-28℃。

7.1.2 、湿度:不大于65%。

7.1.3 、洁净度:10000级洁净室。

7.1.4 、具有电磁屏蔽,且不与高频设备共用电源。

7.1.5 、工作台振动小于0.5gn。

7.2 、仪器校正

7.2.1 、用一组厚度校正标准片(见5.2.5)置于厚度测量仪平台或支架上进行测量。

7.2.2 、调整厚度测量仪,使所得测量值与厚度校正标准片的厚度标准值之差在2µm以内。

7.2.3 、以标称厚度为横坐标,测试值为纵坐标在坐标系上描点,通过两个端点画一条直线。在两个端点画出对应端点值±0.5%的两个点,通过两个+0.5%和一0.5%的点各画一条限制线(如图5所示),观察描绘的点都落在限制线之内(含线上),就认为设备满足测试的线性要求。否则应对仪器重新进行调整。

投稿与新闻线索:陈女士 微信/手机:13693626116 邮箱:chenchen#bjxmail.com(请将#改成@)

特别声明:北极星转载其他网站内容,出于传递更多信息而非盈利之目的,同时并不代表赞成其观点或证实其描述,内容仅供参考。版权归原作者所有,若有侵权,请联系我们删除。

凡来源注明北极星*网的内容为北极星原创,转载需获授权。

硅片查看更多>光伏技术查看更多>光伏发电查看更多>