北极星

搜索历史清空

  • 水处理
您的位置:光伏光伏原材料及辅料硅片技术正文

硅片厚度和总厚度变化测试方法(GB/T 6618-2009)

2015-02-10 10:03来源:中国新能源网关键词:硅片光伏技术光伏发电收藏点赞

投稿

我要投稿

7.4.2.3 、将厚度测量仪探头置于硅片中心位置1(见图1)(偏差在±2mm之内),测量厚度记为t,即为该片的标称厚度。

7.4.2.4 、移动平板上的基准环,直到探头处于扫描开始位置为止。

7.4.2.5 、指示器复位。

7.4.2.6 、移动平台上的基准环,使探头沿曲线和直线段1-7扫描(见图2)。

7.4.2.7 、沿扫描路线,以μm为单位,记录被测量点上、下表面的各自位移量。对于直接读数仪器,记录成对位移之和值的最大值与最小值之差,即为该硅片总厚度变化值。

7.4.2.8 、仅对仲裁性测量要重复7.4.2.5-7.4.2.7操作达9次以上。

7.4.2.9 、放置基准环使探头处于停放位置,然后取出试样。

7.4.2.10 、对每个测量硅片,进行7.4.2.2-7.4.2.9的操作步骤。

8 、测量结果计算

8.1 、直接读数的测量仪,对分立点式测量,选出t1、t2、t3、t4、t5中最大值和最小值,然后求其差值;对扫描式测量,由厚度最大测量值减去最小测量值,将此差值记录为总厚度变化。

8.2 、倘若仪器不是直接读数的,对每个硅片要计算每对位移值a和b之和,同时,检查和值,确定最大和最小值。根据下列关系计算总厚度变化(TTV):

投稿与新闻线索:陈女士 微信/手机:13693626116 邮箱:chenchen#bjxmail.com(请将#改成@)

特别声明:北极星转载其他网站内容,出于传递更多信息而非盈利之目的,同时并不代表赞成其观点或证实其描述,内容仅供参考。版权归原作者所有,若有侵权,请联系我们删除。

凡来源注明北极星*网的内容为北极星原创,转载需获授权。

硅片查看更多>光伏技术查看更多>光伏发电查看更多>