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产品名称:电阻率+PN测试探头

联系人:朱梦杰
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涡流法电阻率分析仪(晶锭和晶片),应用于半导体WaferIngot的电阻率分析;
 
涡流法电阻率探头(晶锭和晶片)应用于光伏、太阳能Si片的检测;
 
SPVPN探头,应用于光伏、太阳能Si片的检测;
 
电容法厚度探头,应用于Wafer的厚度测量,分辨率0.1μm
 
JPV法薄膜方阻探头及分析系统,应用于电池片方阻测量;
 
半自动Wafer电阻率、厚度、PN、温度分析系统(解决样片翘曲度影响)。
 
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