企业档案
企业认证: | 已认证 |
所在地区: | 江苏 |
主营产品: | NS-3500是一种精确、可靠的三维(3D)测量高速共焦激光扫描显微镜(CLSM)。通过快速光学扫描模块和信号处理算法实现实时共焦显微图像。在测量和检测微观三维结构,如半导体晶片,FPD产品,MEMS设备,玻璃基板,材料表面等方面拥有无可比拟的解决方案 |
收藏此企业 |
联系方式
姓名: | 顾先生 |
QQ: | 1491090959 |
电话: | 021-56830191 |
手机: | 18687221347 |
邮箱: | 18626365903@163.com |
本企业其它产品更多>>
推荐企业
产品详情
收藏此产品产品说明
NS3500H 大面积高速三维扫描系统
NS-3500H 是一种准确、可靠的三维(3D)扫描系统,通过快速光学扫描模块和信号处理算法实现实时共焦显微图像。在测量和检测微观三维结构,如半导体晶片,FPD产品,MEMS设备,玻璃基板,材料表面等方面拥有*的解决方案。
Features & Benefits(性能及优势):
-
高分辨无损伤光学3D测量 自动倾斜补偿
-
实时共焦成像 简单的数据分析模式
-
多种光学变焦 双Z扫描
大范围拼接 半透明基材的特征检测
-
实时CCD明场和共聚焦成像 无样品准备
-
自动聚焦
-
Application field(应用领域):
NS-3500是测量低维材料的有前途的解决方案。
可测量微米和亚微米结构的高度,宽度,角度,面积和体积,例如
-半导体:IC图形,凹凸高度,线圈高度,缺陷检测,CMP工艺
- FPD产品:触摸屏屏幕检测,ITO图案,LCD柱间距高度
- MEMS器件:结构三维轮廓,表面粗糙度,MEMS图形
-玻璃表面:薄膜太阳能电池,太阳能电池纹理,激光图案
-材料研究:模具表面检测,粗糙度,裂纹分析
Specification(规格):
Model |
Microscope NS-3500 |
备注 |
|||||
Controller NS-3500E |
|||||||
物镜倍率 |
10x |
20x |
50x |
100x |
150x |
||
观察/ 测量范围 |
水平 (H): μm |
1400 |
700 |
280 |
140 |
93 |
|
垂直 (V): μm |
1050 |
525 |
210 |
105 |
70 |
||
工作范围: mm |
16.5 |
3.1 |
0.54 |
0.3 |
0.2 |
||
数值孔径(N.A.) |
0.30 |
0.46 |
0.80 |
0.95 |
0.95 |
||
光学变焦 |
x1 to x6 |
||||||
总放大倍率 |
178x to 26700x |
||||||
观察/测量光学系统 |
针孔共聚焦光学系统 |
||||||
高度测量 |
测量扫描 |
长扫描 : 10 mm |
|
||||
显示分辨率 |
0.001 μm |
||||||
重复率 σ |
0.010 μm |
注 1 |
|||||
宽度测量 |
显示分辨率 |
0.001 μm |
|||||
重复率 3σ |
0.02 μm |
注 2 |
|||||
帧记忆 |
像素 |
1024x1024, 1024x768, 1024x384, 1024x192, 1024x96 |
|||||
单色图像 |
12 bit |
||||||
彩色图像 |
8-bit for RGB each |
||||||
高度测量 |
16 bit |
||||||
帧速率 |
表面扫描 |
20 Hz to 160 Hz |
|||||
线扫描 |
~8 kHz |
||||||
自动功能 |
自动增益 |
||||||
激光共焦测量光源 |
波长 |
405nm |
|||||
输出 |
~2mW |
||||||
激光等级 |
Class 3b |
||||||
激光接收元件 |
PMT (光电倍增管) |
||||||
光学观察光源 |
灯 |
10W LED |
|||||
光学观察照相机 |
成像元件 |
1/2” 彩色图像 CCD 传感器 |
|||||
记录分辨率 |
640x480 |
||||||
自动调整 |
增益, 快门速度, White balance |
||||||
数据处理单元 |
PC |
||||||
电源 |
电源电压 |
100 to 240 VAC, 50/60 Hz |
|||||
电流消耗 |
500 VA max. |
||||||
重量 |
显微镜 |
Approx. ~200 kg (Measuring head unit : ~12 kg) |
|||||
控制器 |
~8 kg |
注1 :以100×/ 0.95物镜对标准样品(步长1μm)进行100次测量
注 2 :以100×/ 0.95物镜对标准样品(5μm间距)进行100次测量。