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PHYS-R80无接触硅片厚度电阻率测试系统突破技术瓶颈

2012-07-03 15:34来源:北极星太阳能光伏网关键词:合能阳光硅片光伏收藏点赞

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合能阳光近期引进了PHYS-R80无接触硅片厚度电阻率测试系统。该系统检测硅片电阻率通过无接触法一次性检测,大大提高了检测硅片的速度,并避免了对被测硅片的损伤。成功解决了当前行业检测硅片电阻率必须先检测厚度的烦琐问题。 备注:传统测量硅片电阻率必须先用测厚仪测试硅片厚度,再用四探针法去检测电阻率,这种方法既占用时间又容易损伤被测物。

PHYS-R80无接触硅片厚度电阻率测试系统

投稿与新闻线索:陈女士 微信/手机:13693626116 邮箱:chenchen#bjxmail.com(请将#改成@)

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