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乐叶单晶组件在300小时PID测试中衰减率低于1%

2016-02-02 10:34来源:乐叶光伏关键词:乐叶光伏单晶组件PID收藏点赞

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PID全称“Potential Induced Degradation”,即“电势诱导衰减”。光伏产业界近年来对这一现象高度的重视,原因是PID现象会导致组件产生严重的功率损失,开压和填充因子显著下降,组件EL变黑,甚至是完全变黑。NREL对PID现象进行过深入的研究,并且对其形成的机理有过详细的推断,PID的产生和组件封装材料、电池减反射膜的特性以及使用环境的温湿度密切相关。

乐叶光伏坚持采用半导体级品质的单晶硅片生产电池和组件,帮助客户降低电站投资成本、提高发电收益,与此同时,严格选用高标准的背板、EVA、玻璃材料,并通过电池工艺改善控制功率衰减损失,为高效率单晶组件增加高可靠品质保障。

投稿与新闻线索:陈女士 微信/手机:13693626116 邮箱:chenchen#bjxmail.com(请将#改成@)

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