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晶体硅光伏组件的电位诱发衰减(PID)(四)

2012-05-15 09:10来源:北极星太阳能光伏网(独家)关键词:PID太阳能光伏收藏点赞

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外部因素作用的连续性;光伏组件上表面的状况(导电性);偏置电压的大小;组件温度(环境温度)的高低。

讨论

1.实验室加速PID测试中表现出具有抗PID效应的光伏组件,其在实际的应用条件下,也应该有明显的抗PID能了;

2.实验室加速PID测试中表面出不具有抗PID效应的光伏组件,其在实际的应用条件下,不一定有明显的PID效应;

3.某些组件制造商声称的所谓抗PID技术(APT),目前并没有公布其细节;从目前有关产生PID现象的机理来推测,玻璃和电池是两大值得关注的环节。

4.实际应用条件下PID效应的强度由组件本身和系统共同作用所决定,因此可以通过合适的系统配置来降低PID效应的强度。组件制造商通过实验室的PID测试和评估,可以为系统设计者提供必要的信息。(作者贺建华)

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