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产品名称:冷热冲击试验箱,温度冲击试验箱,高低温冲击试验箱

联系人:薛泽明
手机: 13662798899 电 话:400-628-2786

产品说明

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 TS系列冷热冲击试验箱,温度冲击试验箱,高低温冲击试验箱

*设备特点
规格系列齐全 –提篮式、三厢式、水平移动三种冲击模式可供用户选择,充分满足不同用户的各种要求;
设备还可提供标准高低温试验功能,实现了温度冲击和高低温试验的共同兼容;
高强度、高可靠性的结构设计- 确保了设备的高可靠性;
工作室材料为SUS304不锈钢 - 抗腐蚀、冷热疲劳功能强,使用寿命长;
高密度聚氨酯发泡绝热材料- 确保将热量散失减到最小;
表面喷塑处理- 保证设备的持久防腐功能和外观寿命;
高强度耐温硅橡胶密封条 – 确保了设备大门的高密封性;
多种可选功能(测试孔、记录仪、测试电缆等)保证了用户多种功能和测试的需要;
大面积电热防霜观察窗、内藏式照明 –可以提供良好的观察效果;
环保型制冷剂 –确保设备更加符合您的环境保护要求;

*可根据用户要求定制尺寸/定制使用指标/定制各种选配功能

*温度控制
可实现温度定值控制和程序控制;
全程数据记录仪(可选功能)可以实现试验过程的全程记录和追溯;
每台电机均配置过流(过热)保护/加热器设置短路保护,确保了设备运行期间的风量及加热的高可靠性;
USB接口、以太网通讯功能,使得设备的通讯和软件扩展功能满足客户的多种需要;
采用国际流行的制冷控制模式,可以0%~100%自动调节压缩机制冷功率,较传统的加热平衡控温模式耗能减少30%;
制冷及电控关键配件均采用国际知名品牌产品,使设备的整体质量得到了提升和保证;

*设备满足以下标准
GB/T 10592 -2008 高低温试验箱技术条件
GB/T 2423.1-2008 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法试验A:低温
GB/T 2423.2-2008 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法试验B:高温
GB/T 5170.1-2008 电工电子产品环境试验设备检验方法 总则
GJB 150.3A-2009 *用装备实验室环境试验方法 第3部分:高温试验
GJB 150.4A-2009 *用装备实验室环境试验方法 第4部分:低温试验
GJB 150.5A-2009 *用装备实验室环境试验方法 第5部分:温度冲击试验
GJB 360B-2009 电子及电气元件试验方法 方法107 温度冲击试验

型 号
 
TSL-80-A
TSU-80-W
TSS-80-W
TSL-150-A
TSU-150-W
TSS-150-W
TSL-225-W
TSU-225-W
TSS-225-W
TSL-408-W
TSU-408-W
TSS-408-W
标称内容积(升) 80 150 200 300
试验方式 气动风门切换2温室或3温室方式
性能 高温室 预热温度范围 +60~+200℃
升温速率※1 +60→+200℃≤20分钟
低温室 预冷温度范围 -78-0℃
降温速率※1 +20→-75℃≤80分钟
试验室 温度偏差 ±2℃
温度范围 TSL:(+60→+125)℃→(-40--10)℃;
TSU:(+60~+150)℃~(-55~-10)℃;
TSS:(+60~+150)℃~(-65~-10)℃
温度恢复时间※2 5分钟以内 www.oven.cc
试样搁架承载能力 30kg
试样重量 7.5kg 7.5kg 10kg 10kg
内部尺寸(mm) W 500 600 750 850
H 400 500 500 600
D 400 500 600 800
外形尺寸(mm)※4 W 1460 1560 1710 1880
H 1840 1940 1940 2040
D 1500 1600 1700 1900
※1温度上升和温度下降均为各恒温试验箱单独运转时的性能。
※2恢复条件:室温为+25℃和循环水温为+25℃,试样是塑料封装集成电路。(均布)

 

 
TSL-80-A
TSU-80-W
TSS-80-W
TSL-150-A
TSU-150-W
TSS-150-W
TSL-225-W
TSU-225-W
TSS-225-W
TSL-408-W
TSU-408-W
TSS-408-W
标称内容积(升)
80
150
200
300
试验方式
气动风门切换2温室或3温室方式
性能
高温室
预热温度范围
60~+200
升温速率※1
60→+200℃≤20分钟
低温室
预冷温度范围
-78-0
降温速率※1
20→-75℃≤80分钟
试验室
温度偏差
±2
温度范围
TSL:(+60+125→(-40--10);
TSU:+60~+150)-55~-10);
TSS:+60~+150)-65~-10)
温度恢复时间※2
5分钟以内
试样搁架承载能力
30kg
试样重量
7.5kg
7.5kg
10kg
10kg
内部尺寸(mm)
W
500
600
750
850
H
400
500
500
600
D
400
500
600
800
外形尺寸(mm)4
W
1460
1560
1710
1880
H
1840
1940
1940
2040
D
1500
1600
1700
1900
1温度上升和温度下降均为各恒温试验箱单独运转时的性能。
2恢复条件:室温为+25℃和循环水温为+25℃,试样是塑料封装集成电路。(均布)


 冷热冲击试验箱规格表(Programmable Thermal Shock Tster)

---- 不符合此规格符合此规格可配增加此功能可配增加LN2功能
试验规范
 驻留温度()
(exposure temp.)
驻留温度时间(Min)
(exposure time)
覆归时间
(recovery time)
 周期
或次数
试验起
始点
适用机台型号
TS-(80/150/225/408)
高温
室温
低温
高温/低温
室温
S
U
L
MIL-STD-883E
(Method No.1010.7)
+85
+10
----
-55
0
10min
15min
----
含驻留时间&
转换时间≦15min
最少
10
低温或
高温
Temperature Cycling
(
转换时间<1min)

实验过程若中断
超过总实验之1/10
次则实验须重做
----
0
+125
+15
----
0
-10
+150
+15
----
0
+150
+15
-65
0
.
----
0
-10
MIL-STD-202F
(Method No.107G)
+83
+3
-25
+10
-55
0
28g以下
15
30 Min
28
136g
30Min
136g
1.36Kg
60Min
1.36
13.6Kg
120Min
13.6~136Kg
240Min
Max.
5 Min
5 Min 以内
5 cycle
25
50
100
低温
Transfer time
不超过5 min
0
-3
+125
+3
-65
0
----
0
-5
-5
+125
+3
-65
0
----
0
-5
JIS C 0025 
IEC 68-2-14
GB 2423.22
+70
+85
+100
+125
±2
±2
±2
±2
室温
-5
-10
-25
-40
-55
-65
±3
±3
±3
±3
±3
±3
3hr
2hr
1hr
30min
或无定义则
3hr定义
手动转
移时间
2
3Min
为驻留时间
1/10
5 cycle
除非有
其它规格
低温
Auto 
Transfer time
不超过30 sec
小试件
Transfer time
不超过10 sec
   
   
----
IPC 2.6.7 +70
±2
----
0
+0
15 Min
----
2 Min 以内
100 cycle
高温
(
试验结束
点在高温)
Transfer time
不超过2 min
-0
-5
+85
+5
-40
+0
-0
-5
+105
+5
-55
+0
-0
-5
+105
+5
-65
+0
----
-0
-5
+105
+5
   
----
-0
IPC 2.6.6 +85
+3
-25 +10 -55
+0
30 Min
10-15 
Min
  5 cycle    
-0
-5
+125
+3
-5 -65 +0
----
-0
-5
Bellcore
GR-1221-CORE
+70
±2
----
 
10min
15min
----
含驻留时间
&
转换时间≦15min
500 cycle
OR
1000cycle
   
 
+80
±2
 
JESD22
A104-A
+125
+10
 
-40
+0
15min
 
含驻留时间
&
转换时间≦15min
10
可接受;
1000

合格
 
Temperature
Cycling
(
转换时间<1min)
实验过程若中断
超过总实验之1/10
次则实验须重做
-0
-10
+85
+10
-55
+0
-0
+125
+10
-0
-10
+150
+10
-0
+150
+10
-65
+0
----
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