YQ-GF-PID型PID测试系统

一、概述：

 YQ-GF-PID型PID测试系统/电势诱导衰减测试系统是常州宇清电气科技有限公司自主研发的。

执行标准：IEC 62804 （Draft）。

二、测试标准：

1.PID 测试标准引自 IEC 62804 （Draft） “System voltage durability test for crystalline silicon modules – design qualification and type approval”，基本要求是准备 3 块组件。其中一块作为控制组件，组件置于一定温度和湿度的环境中，将组件的内部导电体与高压电源的一个极连在一起，组件外导电体与高压电源的另一极连在一起。 一块组件在正偏压下进行老化，一块组件在负偏压下老化。

2.测试条件如下：

环境温度：60℃±2℃；

环境湿度：85%±5% RH；

测试时间：96 小时；

测试电压：在组件需满足的正系统电压下或负系统电压下。

3.组件老化前需经过光老化、外观检测、最大功率测试、绝缘测试、接地连续性测试（如果组件有外漏导电体），老化后需进行湿漏电测试、最大功率点测试、外观检测、绝缘测试。

具体测试序列见下图所示：

三、功能特点：

1.组件边框端永久接地，既模拟实际情况，又防止了测试过程中由于边框高压引起的潜在危险；

2.对于每块组件，采用4线制测试方法，2根高压线，2根接地线，高压线通过接线盒与组件内部连在一起，接地线与边框连在一起或连接在其他有效位置；

3.多路电流同时显示，报警参数单独设置，单路通断控制；

4.正电源和负电源的无弧化转换，模拟系统的正极接地或负极接地；

5.倒计时功能，可设置测试时间，自动停止；

6.上位机记录测试中数据；

四、参数配置：

Ø  设备型号：YQ-GF-PID

Ø  外观尺寸：640mm*640mm*1500mm

Ø  电源电压：-1500V～0V/ 0～+1500V

Ø  电源时漂：≤0.3%/h

Ø  电源温漂：≤0.5‰/℃

Ø  电源纹波：≤0.5%

Ø  电流范围：1～1000 uA /-1000 uA～-1

Ø  试验时间：0～168h

Ø  绝缘电阻：＞1000MΩ

Ø  测试组件数：可定制

五、软件介绍：

1.实时显示泄漏电流（微安级）、泄漏电量、绝缘电阻、组件温度、湿度等参数；

2.显示当前测试和历史记录中的泄漏电流 （微安级）、泄漏电量、绝缘电阻、组件温度、湿度等曲线； 

3.多路测试条件单独设置，包括测试时间、系统报警参数等；

4.所有数据可以 Excel 或 Access 表格形式存储，方便数据处理。

六、设备配置：

机柜         1 

主机         1 

记录系统      1 

控制系统      1

电源         1